7月4日(日)より、「2010年 合成金属の科学と技術に関する国際会議(ICSM2010)」(京都市)が開催されます。
ICSMは、導電性有機材料に関するトピックスを扱う国際会議としては世界最大規模の大会です。
会議開催中は、口頭セッション、企業展示が行われます。
大塚電子は、企業展示コーナーにて「量子効率測定システム QE series」を展示、その機能や優位性についてご紹介します。また、弊社の分光計測技術を用いた各種アプリケーションもパネルにてご紹介します。
シンポジウムへお越しの際は、企業展示コーナー 大塚電子ブースへぜひお立ち寄りください。
●名 称 | ICSM2010 |
●会 期 | 2010年7月4日(日)~9日(金) ※企業展示:7月5日~8日 |
●会 場 | 京都国際会館 |
【 量子効率評価 】 超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測光システム QE-1000 蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。
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【 部材評価 】 進化したMCPD分光器! MCPDシリーズ最上位機種登場! |
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● 瞬間マルチ測光システム MCPD-9800 広いダイナミックレンジを有し、全光束測定に最適です。
低迷光機能搭載により、UV評価に最適。当社従来機種に比べて迷光率を約1/5に!
最短5msecから65sec*1までの露光時間、微弱光測定、高速測定、インライン測定など、幅広い測定に最適です。
スクランブルファイバーの採用により、高再現性を実現した軽量・コンパクトな縦置きタイプです。
*1 標準仕様では最長20sec
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