イベント　講習会情報－製品技術セミナー in 仙台

無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、先端技術をサポートする各種分析装置と、その測定技術・応用例などについてセミナーを開催いたします。
実際の測定例などをパネル等でも紹介しております。ぜひご参加ください。

●日　時	2010年7月23日（金）　13:00～17:00 （受付12：30～）
●費　用	無料
●会　場	東京エレクトロンホール宮城　　住所：仙台市青葉区国分町3-3-7 　　TEL：022-225-8641 　　FAX：022-223-8728
●お申込	お申込は終了させていただきました
●担　当	嶺・高田　 TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961

希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位･粒子径を一台で測定可能

●ゼータ電位・粒径測定システム　ELSZ series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～7μm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器

●テラヘルツ分光システム TR-1000

高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現！

●反射分光膜厚計 FE-3000

マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。

バックライトの評価も簡単により高精度に！

●全光束測定システム（ハーフムーン）　HM series