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大塚電子 ニュース
ナノテクノロジー関連技術セミナー in 京都  無料
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

光を用いた分析装置の開発をおこなっている大塚電子が、ナノテクノロジーをサポートする分析装置の測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
また、併設の製品展示コーナーでは、実際の装置でのサンプル測定(粒子径測定)を実施いたします。
ぜひこの機会に、大塚電子の製品を直接ご覧ください。

 

  ナノテクノロジー関連技術セミナー in 千葉
日  時

2010年3月2日(火) 13:00~17:20 (受付開始12:30~)

参加費 無料
会  場 メルパルクKYOTO
 4階 研修室4・5
  住所:京都市下京区東洞院通七条下ル東塩小路町676番13
   TEL:075-352-7444(代)
   FAX:075-352-7390
お申込み お申し込みは終了させていただきました
担  当 吉江・森田
  TEL:(072)855-8564 FAX:(072)850-9159
技術セミナープログラム

 【受付開始】 (12:30~)
 【Seminar1】 (13:00~13:40)
 テラヘルツ分光のアプリを公開
  - 材料・医薬品・食品分野を中心に -

   ○ テラヘルツ分光器
TR-1000
光と電波の間に、これまで利用が困難であった未開拓領域“テラヘルツ(THz)”が存在。
THzの基礎、アプリケーションをご紹介します。
 【Seminar2】 (14:00~15:30)
 ナノ微粒子の分散・安定性評価技術
   ○ ゼータ電位・粒径測定システム
   ○ 濃厚系粒径アナライザー
   ○ ファイバー光学動的光散乱装置
ELSZ シリーズ
FPAR-1000
FDLS-3000
ナノマテリアルの計測・評価に重要なゼータ電位・粒子径測定について、データの考察の仕方や応用例をご紹介します。
 【Seminar3】 (15:50~16:50)
 LEDの光学特性評価
   ○ LED光学特性評価装置
   ○ 瞬間マルチ測光システム
LEシリーズ、HMシリーズ
MCPD シリーズ
近年市場拡大が見込まれるLED。
部材である蛍光体、LEDモジュールおよびLED照明器具などの光学特性評価についてご紹介します。
サンプル測定・製品展示・技術相談コーナー

OPEN (12:30~17:20)

併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。
また、粒子径測定(FPAR-1000)では、試料をお持ちいただければ、サンプル測定をいたします。

サンプル測定(製品展示)  
ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000

希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定が可能です。
コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。



<サンプル測定>
 サンプル測定をご希望の方は参加お申込の際にその旨をご記入ください。
 後日、担当者よりご連絡いたします。
製品展示
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series
従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能です。粒子径測定範囲は0.6nm~7000nm、対応濃度範囲は、0.001%~40%です。従来の装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。

バックライトの評価も簡単により高精度に!
●全光束測定システム(ハーフムーン) HM series
全光束測定システム(積分半球仕様)HMseries
積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単にそして精度良く評価できるシステムを提供します。

小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定!
●膜厚モニター FE-300
膜厚モニター FE-300
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。
安価でお求めやすい固定ステージ仕様と、マッピング測定が可能な自動ステージ仕様の2種類をラインナップしています。
遠赤外(テラヘルツ)領域の小型分光器
●テラヘルツ分光器 TR-1000
テラヘルツ分光器 TR-1000
高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

お申込み     
お申し込みは終了させていただきました
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