●日 時 | 2010年3月2日(火) 13:00~17:20 (受付開始12:30~) |
●参加費 | 無料 |
●会 場 | メルパルクKYOTO 4階 研修室4・5 住所:京都市下京区東洞院通七条下ル東塩小路町676番13 TEL:075-352-7444(代) FAX:075-352-7390 |
●お申込み | お申し込みは終了させていただきました |
●担 当 | 吉江・森田 TEL:(072)855-8564 FAX:(072)850-9159 |
併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。
また、粒子径測定(FPAR-1000)では、試料をお持ちいただければ、サンプル測定をいたします。
ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能 |
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定が可能です。
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<サンプル測定> サンプル測定をご希望の方は参加お申込の際にその旨をご記入ください。 後日、担当者よりご連絡いたします。 |
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能 |
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能です。粒子径測定範囲は0.6nm~7000nm、対応濃度範囲は、0.001%~40%です。従来の装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
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バックライトの評価も簡単により高精度に! |
●全光束測定システム(ハーフムーン) HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単にそして精度良く評価できるシステムを提供します。
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小型・低価格!簡単操作で、"非接触"膜厚測定! |
●膜厚モニター FE-300
薄膜から厚膜の幅広い膜厚測定に対応可能な光干渉式膜厚計です。
コンパクト・低価格でありながら高精度測定を実現します。 安価でお求めやすい固定ステージ仕様と、マッピング測定が可能な自動ステージ仕様の2種類をラインナップしています。 |
遠赤外(テラヘルツ)領域の小型分光器 |
●テラヘルツ分光器 TR-1000 高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。 |