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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
4月15日から東京ビックサイトで開催される「第1回 ライティングジャパン」に出展します。
大塚電子では、高速・高精度な測光・測色計測装置をご紹介します。
光源と器具が一体化した照明装置の分光全光束測定を、簡単な操作で実現する全光束測定システム（ハーフムーン）HM seriesを展示します。他に高感度分光放射輝度計 HS series、および光源の分光スペクトル、輝度・色度、色温度、演色性測定が可能な装置を展示します。
大塚電子ブースでは、弊社の新技術を紹介するとともに、お客さまの「評価したいこと」の実現に向けて、技術相談を承ります。 大塚電子のユニークな発想、きめ細かな対応、確かな技術は、お客様が求める製品の実現に向け、長年蓄積した分光計測技術を駆使して、多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（8-4）へお立ち寄りください。
大塚電子では、高速・高精度な測光・測色計測装置をご紹介します。
光源と器具が一体化した照明装置の分光全光束測定を、簡単な操作で実現する全光束測定システム（ハーフムーン）HM seriesを展示します。他に高感度分光放射輝度計 HS series、および光源の分光スペクトル、輝度・色度、色温度、演色性測定が可能な装置を展示します。
大塚電子ブースでは、弊社の新技術を紹介するとともに、お客さまの「評価したいこと」の実現に向けて、技術相談を承ります。 大塚電子のユニークな発想、きめ細かな対応、確かな技術は、お客様が求める製品の実現に向け、長年蓄積した分光計測技術を駆使して、多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（8-4）へお立ち寄りください。
■同時出展
ファインテックジャパンにも出展
（ブース：30-30）いたします。
ファインテックジャパンにも出展
（ブース：30-30）いたします。
| ●名 称 | 第1回 次世代照明 技術展 -ライティング･ジャパン- |
| ●日 時 | 2009年4月15日（水）～17日（金）10:00 ～ 18:00 （最終日は17：00終了） |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東3ホール |
| ●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 |
| ●同時開催 | 第19回 ファインテックジャパン（フラットパネルディスプレイ研究開発･製造技術展） |
| 【 光源評価 】 バックライトの評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（ハーフムーン） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 【 輝度評価 】 超低輝度（0.005cd/m2）から高輝度（400,000cd/m2）！ |
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● 高感度分光放射輝度計 HS series 0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。ランプなど照明光源の分光データ・輝度・色度・相関色温度測定に最適です。
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| 【 量子効率評価 】 超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定 |
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● 量子効率測光システム MCPD series  蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。
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