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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
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3月3日（火）から6日（金）まで、東京ビックサイトでライティング・フェア2009が開催されます。
大塚電子は本展示会において、高速・高精度な測光・測色計測装置をご紹介します。
光源と器具が一体化した照明装置の分光全放射束、全光束、色度、色温度、演色性測定を簡単な操作で実現する全光束測定システム（ハーフムーン）をはじめ、 高感度分光放射輝度計、および光源の分光スペクトル、輝度・色度、色温度、演色性測定が可能な装置を展示します。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（LF3019）へお立ち寄りください。
大塚電子は本展示会において、高速・高精度な測光・測色計測装置をご紹介します。
光源と器具が一体化した照明装置の分光全放射束、全光束、色度、色温度、演色性測定を簡単な操作で実現する全光束測定システム（ハーフムーン）をはじめ、 高感度分光放射輝度計、および光源の分光スペクトル、輝度・色度、色温度、演色性測定が可能な装置を展示します。
お客さまが求める製品の実現に向けて、弊社の光計測技術が多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（LF3019）へお立ち寄りください。
| ●名 称 | ライティング・フェア2009 （第9回国際照明総合展） |
| ●日 時 | 2009年3月3日（火）～6日（金）10:00 ～ 17:00 （最終日は16：30終了） |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東3ホール |
| ●主 催 | （社）日本照明器具工業会、日本経済新聞社 |
| ●同時開催 | 「街づくり・流通ルネサンス」 JAPAN SHOP リテールテックJAPAN 建築・建材展 IC CARD WORLD SECURITY SHOW フランチャイズ・ショー |
| 【 光源評価 】 バックライトの評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（ハーフムーン） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 【 輝度評価 】 超低輝度（0.005cd/m2）から高輝度（400,000cd/m2）！ |
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● 高感度分光放射輝度計 HS series 0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。ランプなど照明光源の分光データ・輝度・色度・相関色温度測定に最適です。
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