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大塚電子 ニュース
第56回 応用物理学関係連合講演会 2009年春季理化学・計測機材展
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

3月30日から筑波大学で「第56回 応用物理学関係連合講演会」が行われます。
大塚電子は、「2009年春季 理化学・計測機材展」に出展します。 この展示会は、講演会の重要な一部であるポスターセッションと同じ会場で開催され、 最新機器と技術の情報交換や交流の場となっています。
弊社ブースでは、テラヘルツ分光器 TR-1000や量子効率測定システム MCPD seriesの実機展示を行います。
学術講演会へお越しの際は、ぜひ付設展示会弊社ブースへもお立ち寄りください。
名 称 第56回 応用物理学関係連合講演会 2009年春季理化学・計測機材展
日 時 2009年3月30日(月)~4月2日(木)10:00 ~ 17:30 (最終日は13:00終了)
会 場 筑波大学第1、第3体育館
入場料 詳細は事務局にお問い合わせください。
主 催
運営管理
(社)応用物理学会
(株)日刊工業広告社

出展ブース「2-24」(第1体育館)
大塚電子ブース「2-24」(第1体育館)
実機展示
【 遠赤外(テラヘルツ)領域の測定 】
  遠赤外(テラヘルツ)領域を利用し、広帯域・高性能・高操作性を実現
テラヘルツ分光器 TR-1000
テラヘルツ分光器
高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

測定周波数域 0.04 ~ 7 THz  (1THz=1012Hz=0.3mm)
対象試料 粉体・固体・液体
【 量子効率測定 】
  超高感度・高精度な低迷光マルチチャンネル分光光度計を用いた量子効率測定
● 量子効率測光システム MCPD series
【部材評価】量子効率測光システム MCPD series
蛍光スペクトルを積分半球を使用して測定する装置です。分光器や干渉フィルタを用いることにより任意の励起波長を選択することが可能です。紫外域での迷光を抑えることにより、高い量子効率をもつサンプルの高精度な測定を可能とします。
また、再励起蛍光発光の除去により高い反射率サンプルの高精度な量子効率測定ができます。

測定波長範囲 240nm ~ 800nm
励起波長範囲 250nm ~ 600nm
測定項目 蛍光スペクトル測定、量子効率測定

パネル展示
高精度な膜厚解析・光学定数解析が可能な卓上型分光エリプソメータを低価格で実現!
卓上型分光エリプソメータ FE-5000S 
  自動角度可変測定、全角度同時解析など高機能仕様
 ■ 高機能な分光エリプソメータを低価格・コンパクトサイズにて実現
 ■ ナノメータオーダーの半導体、薄膜材料における多層薄膜の膜厚解析が可能
 ■ 多層膜フィッティング解析による光学定数測定により、
   膜厚管理・膜質管理に有用な情報を提供

卓上型分光エリプソメータ FE-5000S

微小リタデーション(0.1nm~)が精度よく測定可能!
●位相差フィルム・光学材料検査装置 RETS-100
  リタデーションの波長分散評価、配向角(光学軸)や貼り合わせ角度の自動
   検出など、 光学フィルムの偏光特性の評価に最適
  任意波長での高精度なリタデーション測定が可能
  オプションの傾斜・回転ステージにより、三次元屈折率パラメータ解析などの
   視野角特性評価が可能
  測定対象に応じて自由な試料ステージの構築が可能

位相差フィルム・光学材料検査装置 RETS-100

従来製品に比べて、小型化・高精度化したファイバー付きマルチチャンネル分光光度計
瞬間マルチ測光システム MCPD-3700/7700 
  紫外から近赤外の幅広い領域での分光スペクトル測定に対応
 ■ 従来製品に比べ、高い波長精度と波長分解能を実現
 ■ USB、LANの汎用インターフェースを採用
 ■ オプティカルファイバーにより、自由な光学系の構築が可能
 ■ インライン対応可能。

瞬間マルチ測光システム MCPD-3700

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