イベント　講習会情報－粉体工業展大阪2009（POWTEX OSAKA 2009）出展のご案内- 大塚電子株式会社

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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました

10月21日（水）から24日（土）まで、インテックス大阪1・2号館で「粉体工業展大阪2009」が開催されます。
テーマは、“粉づくり・ものづくり・夢づくり - 粉の技術 -”です。
大塚電子は、ゼータ電位･粒径測定システム「ELSZ series」、濃厚系粒径アナライザー「FPAR-1000」、テラヘルツ分光器「TR-1000」を展示いたします（ブースは「2号館2-59」）。
また併催の製品技術説明会で「分散剤自動添加システムを用いた粉体粒子の粒子径、ゼータ電位による分散評価」というタイトルで、新産業を創る先端科学技術フォーラム2009では「テラヘルツ新産業への期待」で講演を行います。
各種技術資料も取り揃えて皆様のご来場をお待ちしています。

●名　称	粉体工業展大阪2009 （POWTEX OSAKA 2009）
●会　期	2009年10月21日（水）～10月24日（土）　10：00～17：00（ただし、最終日は16：00まで）
●会　場	インテックス大阪　１・２号館
●入場料	1,000円（ただし、招待券持参者・事前登録者・学生は無料）
●主　催	社団法人日本粉体工業技術協会
●併　催	全日本科学機器展 in 大阪2009

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＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞

● ゼータ電位・粒径測定システム　ELSZ series

従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定と平板・フィルム状試料の表面ゼータ電位測定が可能です。
粒子径測定範囲も（0.6nm～7000nm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。
ｐＨタイトレータと組合せることでｐＨや添加剤濃度に対するゼータ電位変化を自動測定することができます。

ゼータ電位	-200 ～ 200mV
粒子径・粒度分布（Z-2仕様）	0.6nm ～ 7000nm
対応濃度範囲	0.001% ～ 40% *1
電気移動度	-20×10-4 ～ 20×10-4 cm2/s･V

*1（Latex115/262nm： 0.001 ～ 10%、タウロコール酸：～ 40%）

＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞

● 濃厚系粒径アナライザー　FPAR-1000

希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。

粒子径・粒度分布	1nm ～ 5000nm（高感度仕様）
対応濃度範囲	0.001% ～ 10% （ラテックス204nmの場合）

● オートサンプラー付濃厚系粒径アナライザー

FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。
サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。

＜遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器＞

● テラヘルツ分光器　TR-1000

高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。

測定周波数域	0.04THz ～ 7 THｚ　（1THｚ＝1012Hz＝0.3mm）
対象試料	粉体・固体・液体

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併催の製品技術説明会では以下内容のセミナーも行います。ぜひご聴講ください。

●テ　ー　マ	分散剤自動添加システムを用いた粉体粒子の粒子径、ゼータ電位による分散評価
●対象製品	ゼータ電位・粒径測定装置（ELSZ series）
●日　　　時	2009年10月21日（水）13：45～14：20
●会　　　場	粉体工業展会場内 Bルーム（1号館）

併催の新産業を創る先端科学技術フォーラム2009では以下内容のセミナーも行います。ぜひご聴講ください。

●テ　ー　マ	B-5 「テラヘルツ新産業への期待」　（4）テラヘルツ分光装置の産業展開
●対象製品	テラヘルツ分光器
●日　　　時	2009年10月23日（金）13：30～15：30
●会　　　場	5号館第2会場

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