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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
4月15日から東京ビックサイトで開催される「第19回 ファインテックジャパン」に出展します。
大塚電子では、新製品 広ダイナミックレンジ対応瞬間マルチ測光システム（MCPD-9800）をご紹介します。
MCPD seriesの最上位機種に位置し、軽量・コンパクト、広い測定範囲、低迷光機能、高速・高再現性を実現しました。あらゆる高精度測光システムに対応します。ぜひブースにて進化したMCPD分光器をご覧ください。
大塚電子ブースでは、弊社の新技術を紹介するとともに、お客さまの「評価したいこと」の実現に向けて、技術相談を承ります。 大塚電子のユニークな発想、きめ細かな対応、確かな技術は、お客様が求める製品の実現に向け、長年蓄積した分光計測技術を駆使して、多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（30-30）にお立ち寄りください。
大塚電子では、新製品 広ダイナミックレンジ対応瞬間マルチ測光システム（MCPD-9800）をご紹介します。
MCPD seriesの最上位機種に位置し、軽量・コンパクト、広い測定範囲、低迷光機能、高速・高再現性を実現しました。あらゆる高精度測光システムに対応します。ぜひブースにて進化したMCPD分光器をご覧ください。
大塚電子ブースでは、弊社の新技術を紹介するとともに、お客さまの「評価したいこと」の実現に向けて、技術相談を承ります。 大塚電子のユニークな発想、きめ細かな対応、確かな技術は、お客様が求める製品の実現に向け、長年蓄積した分光計測技術を駆使して、多様なニーズにお応えします。
ぜひ弊社ブース（30-30）にお立ち寄りください。
■同時出展
ライティングジャパンにも出展
（ブース：8-4）いたします。
| ●名 称 | 第19回 ファインテックジャパン （フラットパネルディスプレイ研究開発・製造技術展） |
| ●日 時 | 2009年4月15日（水）～17日（金）10:00 ～ 18:00 （最終日は17：00終了） |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東4ホール |
| ●主 催 | リードエグジビション ジャパン株式会社 |
| ●同時開催 | 第1回次世代照明 技術展 ライティング・ジャパン 第4回 FPD 部品・材料 EXPO Display2009 第5回 国際 フラットパネルディスプレイ展 第1回 国際タッチパネル技術展 |
| 【 動画解像度評価 】 ディスプレイの動画解像度を定量的に評価！ |
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● 動画解像度評価装置 MR-2000
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| 【 光源評価 】 バックライトの評価も簡単により高精度に！ |
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● 全光束測定システム（ハーフムーン） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 【 部材評価 】 進化したMCPD分光器！ MCPDシリーズ最上位機種登場！ |
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● 瞬間マルチ測光システム MCPD-9800  従来のMCPD分光器に比べ、軽量・コンパクト、広い測定範囲、高速・高再現性を実現しました。また低迷光機能の搭載により、高精度な紫外定量評価や量子効率測定を可能にします。
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| 【 輝度評価 】 超低輝度（0.005cd/m2）から高輝度（400,000cd/m2）！ |
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● 高感度分光放射輝度計 HS series 0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。ランプなど照明光源の分光データ、輝度、色度、相関色温度測定に最適です。
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| 【 リタデーション評価 】 0.1秒以下の速さで低リタデーションと主軸方位角の同時測定を実現！ |
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●高速リタデーション測定装置 RE-100  偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。
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| 【 膜厚評価 】 多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現！ |
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● 反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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