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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた分析装置の開発をおこなっている大塚電子が、ナノテクノロジーをサポートする分析装置の測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
また、併設の製品展示コーナーでは、実際の装置でのサンプル測定（粒子径測定・膜厚測定）を実施いたします。
ぜひ 、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧になってください。
また、併設の製品展示コーナーでは、実際の装置でのサンプル測定（粒子径測定・膜厚測定）を実施いたします。
ぜひ 、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧になってください。
| ●日 時 | 2009年2月26日（木） 13：00～17：30 （受付12：30～） |
| ●参加費 | 無料 |
| ●会 場 | 財団法人 三重北勢地域地場産業振興センター ４階 研修室１・２ 住所：三重県四日市市安島1丁目3番18号 TEL：059-353-8100 FAX：059-353-8104 |
| ●お申込み | お申込は終了させていただきました |
| ●担 当 | 長谷川・山口 TEL：(072)855-8564 FAX：(072)850-9159 |
| 多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現！ |
●反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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| ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能 |
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで、幅広い濃度領域での粒子径測定が可能です。
コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。 |
| 希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位･粒子径を一台で測定可能 |
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能です。粒子径測定範囲は0.6nm～7000nm、対応濃度範囲は、0.001%～40%です。従来の装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
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| 現場で簡単に測定可能な高精度プロセス用ガス連続モニター |
●工業用ガス分析装置 IG-2000 プロセス現場でのガス成分分析が手軽にできる高感度プロセス用FTIRガス連続モニターです。
プロセス装置から排出されるPFCsガスの分解効率、排出量試算、およびプロセス最適化、除害装置の除害効率評価などに最適です。簡単なガスセル交換で幅広い濃度範囲の多種ガス成分分析に対応可能であり、半導体特殊ガスなどトレーサビリティのあるガスライブラリーによる定性・定量解析が高精度にできます。研究分野から品質管理、ライン管理まで対応できる装置です。 |
| 従来製品に比べて、小型化・高精度化したファイバー付きマルチチャンネル分光光度計 |
●瞬間マルチ測光システム MCPD series 紫外から近赤外の幅広い領域での分光スペクトル測定に対応し、高い波長精度と波長分解能を実現しました。
オプティカルファイバーにより、自由な光学系の構築が可能です。 |
【受付開始】 （１２：３０～）
【Seminar１】 （１３：００～１３：４０）
工業用ガス分析装置 IGシリーズの測定例について
・工業用ガス分析装置
IG-2000
IGシリーズは、FTIRを採用した可搬型のガス濃度モニターです。今回は、半導体製造プロセス、燃料電池関連、プロセスガス製造プラントなど、さまざまな現場で実施した評価例をご紹介します。
【Seminar２】 （１３：５０～１５：２０）
ナノ微粒子の分散･安定性評価技術
・ゼータ電位・粒径測定システム
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱装置
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱装置
ELSZ シリーズ
FPAR-1000
FDLS-3000
FPAR-1000
FDLS-3000
ナノマテリアルの計測・評価法として重要なゼータ電位･粒子径測定について、データの解釈や考察の仕方から、その応用についてご紹介します。
＜コーヒーブレイク＞ （１５：２０～１５：４０）
【Seminar３】 （１５：４０～１６：３０）
機能性膜の膜厚測定と膜質解析
・分光エリプソメータ
・反射分光膜厚計
・反射分光膜厚計
FE-5000 / FE-5000S
FE-3000
FE-3000
光学式膜厚測定原理を中心に、フィルムや高機能性膜およびその材料を対象とした膜厚解析や、屈折率・消衰係数の波長依存性などの膜質解析について、アプリケーションデータを用いながらご紹介します。
【Seminar４】 （１６：４０～１７：３０）
機能性フィルムの位相差測定、Rth測定
・リタデーション測定装置
RE-100、RETS-100
要求精度が高まりつつある機能性フィルムの位相差とRth測定にスポットを当て、低リタデーション（1nm）からの測定を可能にした新たな回転検光子法を用いた装置と、フォトニック結晶を用いた世界最速（0.1秒）の低リタデーション測定装置の2種類をご紹介いたします。
ＯＰＥＮ （１２：３０～１７：３０）
併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。
また、粒子径測定（FPAR-1000）、膜厚測定（FE-3000）は、試料をお持ちいただければ、サンプル測定を実施しております。
＜サンプル測定＞
● 膜厚測定 （反射分光膜厚計）
● 粒子径測定* （濃厚系粒径アナライザー）
* 有機溶媒系のサンプル測定は、前もって専用のサンプルバイアルをお送りいたしますので、その容器に
入れてください。また、測定には溶媒の粘度・屈折率の情報が必要となります。
＜製品展示＞
・工業用ガス分析装置
・ゼータ電位･粒径測定システム
・濃厚系粒径アナライザー
・反射分光膜厚計
・瞬間マルチ測光システム
＜パネル展示＞
・工業用ガス分析装置
・ゼータ電位･粒径測定システム
・濃厚系粒径アナライザー
・ダイナミックス光散乱光度計
・キャピラリー電気泳動装置
・反射分光膜厚計
・分光エリプソメータ
・位相差フィルム・光学材料検査装置
・高速リタデーション測定装置
・テラヘルツ分光器
・工業用ガス分析装置
・ゼータ電位･粒径測定システム
・濃厚系粒径アナライザー
・反射分光膜厚計
・瞬間マルチ測光システム
＜パネル展示＞
・工業用ガス分析装置
・ゼータ電位･粒径測定システム
・濃厚系粒径アナライザー
・ダイナミックス光散乱光度計
・キャピラリー電気泳動装置
・反射分光膜厚計
・分光エリプソメータ
・位相差フィルム・光学材料検査装置
・高速リタデーション測定装置
・テラヘルツ分光器
IG-2000
ELSZ series
FPAR-1000
FE-3000
MCPD-3700
IG シリーズ
ELSZ series
FPAR-1000
DLS-8000
CAPI-3300
FE-3000
FE-5000
RETS-100
RE-100
TR-1000
お申込は終了させていただきました
