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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、ナノテクノロジーをサポートする各種分析装置および測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
また、製品展示コーナーを併設し、実際の装置でのデモ測定を実施いたします。
ぜひ 、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧ください。
また、製品展示コーナーを併設し、実際の装置でのデモ測定を実施いたします。
ぜひ 、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧ください。
| ●日 時 | 2009年7月14日（火） 13:00～16:30 （受付12：30～） |
| ●費 用 | 無料 |
| ●会 場 | 千葉市民会館
３階 住所：千葉市中央区要町1-1 TEL：043-224-2431 FAX：043-224-2439 |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ●担 当 | 色川・田中 TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961 |
| 遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器 |
●テラヘルツ分光器 TR-1000  高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。 |
| 希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位･粒子径を一台で測定可能 |
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～7μm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
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| 多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現！ |
●反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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【受付開始】 （１２：３０～）
展示機器の見学や、デモ測定が可能です。
デモ測定可能機器
・濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
・テラヘルツ分光器 TR-1000
デモ測定可能機器
・濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
・テラヘルツ分光器 TR-1000
【Seminar１】 （１３：００～１４：００）
テラヘルツ分光のアプリを公開
～ 材料・医薬品・食品分野を中心に ～
THｚの基礎、アプリケーションをご紹介します。
～ 材料・医薬品・食品分野を中心に ～
・テラヘルツ分光器
TR-1000
光の電波の間に、これまで利用が困難であった未開拓領域『テラヘルツ（THｚ）』が存在。THｚの基礎、アプリケーションをご紹介します。
【Seminar２】 （１４：００～１５：００）
ゼータ電位・粒子径測定によるナノ粒子の分散安定性評価と固体表面評価
～ ナノマテリアルからバイオマテリアルまで ～
～ ナノマテリアルからバイオマテリアルまで ～
・ゼータ電位・粒径測定システム
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱装置
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱装置
ELSZ シリーズ
FPAR-1000
FDLS-3000
FPAR-1000
FDLS-3000
ナノマテリアルやバイオマテリアルの計測・評価法として重要な、ゼータ電位・粒子径測定についてデータ解釈、考察の仕方
から、その応用についてご紹介します。
また、固体のゼータ電位測定を利用した固体表面評価法についてもご紹介します。
から、その応用についてご紹介します。
また、固体のゼータ電位測定を利用した固体表面評価法についてもご紹介します。
＜コーヒーブレイク＞ （１５：００～１５：３０）
【Seminar３】 （１５：３０～１６：３０）
有機薄膜、酸化膜の膜厚、機能性膜の膜質
・反射分光膜厚計
・分光エリプソメータ
・膜厚測定システム
・分光エリプソメータ
・膜厚測定システム
FE-3000 / FE-300
FE-5000
MCPDシリーズ
FE-5000
MCPDシリーズ
光学膜厚 1nm～1mm まで幅広く対応可能な反射分光膜厚計のアプリケーション紹介、Low-K材評価としてのエリプソの
新規アプリケーション紹介、FT-IRを用いた膜質評価方法などについて最新評価技術をご紹介いたします。
新規アプリケーション紹介、FT-IRを用いた膜質評価方法などについて最新評価技術をご紹介いたします。
ＯＰＥＮ （１３：００～１７：００）
併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。ご不明な点などはお気軽に声をお掛けください。
＜製品展示＞
● ゼータ電位･粒径測定システム
ELSZ series
● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー
FPAR-1000 + FP-3000
● テラヘルツ分光器
TR-1000
＜パネル展示＞
● ファイバー光学動的光散乱光度計
FDLS-3000
● ダイナミックス光散乱光度計
DLS-8000
● リタデーション測定装置
RE-100 / RETS-100
● 反射分光膜厚計
FE-3000
● 分光エリプソメータ
FE-5000（S)
● 工業用ガス分析装置
IG シリーズ
＜デモ測定＞
● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000+FP3000
※お持ち頂いた試料をその場で測定いたします。測定希望の方は１週間前までにご連絡ください。
事前に測定用のバイアル瓶を発送させていただきます。検体数は３検体まででお願いします。
なお、水系以外の試料では、溶媒の屈折率と粘度が必要です。サンプル量は1mL以上ご準備ください。
● テラヘルツ分光器 TR-1000
※窒素置換なしでの測定になります。測定対象は、粉末、錠剤、フィルム・シートなどになります。
サンプルについては出来るだけ事前にご相談下さい。
お申込は終了させていただきました
