●日 時 | 2009年8月6日(木) 13:00~17:00 (受付12:30~) |
●費 用 | 無料 |
●会 場 | せんだいメディアテーク 住所:仙台市青葉区春日町2-1 TEL:022-713-3171 FAX:022-713-4482 |
●お申込 | お申込は終了させていただきました |
●担 当 | 嶺・高田 TEL(042)644-4951 / FAX(042)644-4961 |
遠赤外(テラヘルツ)領域の小型分光器 |
●テラヘルツ分光器 TR-1000 高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。 |
希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能 |
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も(0.6nm~7μm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
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多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現! |
●反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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バックライトの評価も簡単により高精度に! |
●全光束測定システム(ハーフムーン) HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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