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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた各種分析・評価装置の開発をおこなってきた大塚電子の分析装置および測定技術についての技術セミナーを開催いたします。
また、製品展示コーナーを併設しております。粒子径測定については、お客様のサンプル測定が可能です。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧ください。
また、製品展示コーナーを併設しております。粒子径測定については、お客様のサンプル測定が可能です。
ぜひ、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧ください。
| ●日 時 | 2009年7月9日（木） 13:00～16:30 （受付12：30～） |
| ●費 用 | 無料 |
| ●会 場 | 北九州国際会議場２階 住所：福岡県北九州市小倉北区浅野三丁目8-1 TEL：093-511-6848 FAX：0836-31-7306 |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ●担 当 | 巽・斎藤 TEL(072)855-8564 / FAX(072)850-9159 |
| 現場で簡単に測定可能な高精度プロセス用ガス連続モニター |
●工業用ガス分析装置 IG シリーズ プロセス現場でのガス成分分析が手軽にできる高感度プロセス用FTIRガス連続モニターです。
プロセス装置から排出されるPFCsガスの分解効率、排出量試算、およびプロセス最適化、除害装置の除害効率評価などに最適です。簡単なガスセル交換で幅広い濃度範囲の多種ガス成分分析に対応可能であり、半導体特殊ガスなどトレーサビリティのあるガスライブラリーによる定性・定量解析が高精度にできます。研究分野から品質管理、ライン管理まで対応できる装置です。 |
| 希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位･粒子径を一台で測定可能 |
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～7μm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
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| バックライトの評価も簡単により高精度に！ |
●全光束測定システム（ハーフムーン） HM series 積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。
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| 多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現！ |
●反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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【受付開始】 （１２：３０～）
展示機器の見学や、デモ測定が可能です。
デモ測定可能機器
・濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
デモ測定可能機器
・濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000
【Seminar１】 （１３：００～１３：４０）
工業用ガス分析装置 IGシリーズの測定例について
・工業用ガス分析装置
IGシリーズ
IGシリーズは、FTIRを採用した可搬型のガス濃度モニターです。今回は、半導体製造プロセス、燃料電池関連、プロセス
ガス製造プラントなど、さまざまな現場で実施した評価例をご紹介します。
ガス製造プラントなど、さまざまな現場で実施した評価例をご紹介します。
【Seminar２】 （１４：００～１５：００）
初心者にも分かるナノ微粒子の分散･安定性評価技術
・ゼータ電位・粒径測定システム
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱装置
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱装置
ELSZ シリーズ
FPAR-1000
FDLS-3000
FPAR-1000
FDLS-3000
ナノマテリアルの計測・評価法として重要な、ゼータ電位･粒子径測定についてデータ解釈、考察の仕方から、その応用に
ついてご紹介します。
ついてご紹介します。
【Seminar３】 （１５：２０～１５：５０）
LED及び太陽電池の光学特性評価
・LED光学特性評価装置
・全光束測定システム
・瞬間マルチ測光システム
・全光束測定システム
・瞬間マルチ測光システム
LEシリーズ
HMシリーズ
MCPDシリーズ
HMシリーズ
MCPDシリーズ
近年市場拡大が見込まれるLEDについて、部材である蛍光体から、LEDモジュール、LED照明器具の光学特性評価につい
てご紹介します。太陽電池については部材やソーラーシュミレーター等の光学特性評価についてご紹介します。
てご紹介します。太陽電池については部材やソーラーシュミレーター等の光学特性評価についてご紹介します。
【Seminar４】 （１６：００～１６：３０）
機能性膜の膜厚測定と膜質解析
・反射分光膜厚計
・分光エリプソメータ
・分光エリプソメータ
FE-3000
FE-5000(S)
FE-5000(S)
光学式膜厚測定原理をはじめとし、高機能性膜を対象とした薄膜から厚膜までさまざまな部材に対応した膜厚解析や、
屈折率や消衰係数の波長依存性などの膜厚解析について、アプリケーションデータを用いながらご紹介します。
屈折率や消衰係数の波長依存性などの膜厚解析について、アプリケーションデータを用いながらご紹介します。
ＯＰＥＮ （１２：３０～１６：３０）
別室の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。ご不明な点などはお気軽に声をお掛けください。
＜製品展示＞
● ゼータ電位･粒径測定システム
ELSZ series
● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー
FPAR-1000 + FP-3000
● 全光束測定システム（ハーフムーン）
HM series
● 瞬間マルチ測光システム
MCPD-3700
● テラヘルツ分光器
TR-1000
＜デモ測定＞
● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000+FP3000
※お持ち頂いた試料をその場で測定いたします。測定希望の方は１週間前までにご連絡ください。
事前に測定用のバイアル瓶を発送させていただきます。検体数は３検体まででお願いします。
なお、水系以外の試料では、溶媒の屈折率と粘度が必要です。サンプル量は1mL以上ご準備ください。
お申込は終了させていただきました
