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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
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2月13日（水）から15日（金）まで、東京ビッグサイトでnano tech 2008国際ナノテクノロジー総合展・技術会議がおこなわれます。大塚電子（株）も出展し（東4ホールブースNo.C-06）、ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series、ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000、濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000、オートサンプラー（FPAR用） FP-3000、卓上型分光エリプソメータ FE-5000S を展示いたします。
また、併催の「Convertech JAPAN 2008」にも出展いたします。
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
また、併催の「Convertech JAPAN 2008」にも出展いたします。
各種技術資料も取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
| ●名 称 | nano tech 2008 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 |
| ●日 時 | 2008年2月13日（水）～15日（金） 10:00～18:00（最終日は17:00まで） |
| ●会 場 | 東京国際展示場（東京ビッグサイト） 東４・５・６ホール |
| ●入場料 | 3,000円 （事前登録された方は、無料で入場して頂けます。） 事前登録を希望される方は nano tech 2008 ホームページ内の 「nano tech online 登録」からお申し込みください。 |
| ●主 催 | nano tech 実行委員会 |
| ●併 催 | ナノバイオ Expo 2008 , ASTEC 2008 ,
METEC '08 Convertech JAPAN 2008 , 新機能性材料展 2008 nano week 2008 |
| 【 ゼータ電位・粒子径測定 】 希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能 |
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●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能です。
粒子径測定範囲も（0.6nm～7μm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
  ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能になります。
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| 【 粒子径測定 】 ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能 |
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●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
 FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。 サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。 |
| 【 粒子径測定 】 ナノ粒子を高精度かつ容易に測定が可能、高温･高圧セルなど特殊セルにも対応 |
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●ファイバー光学動的光散乱光度計 FDLS-3000 固体レーザーと高感度検出器により、ナノ粒子 0.5nm ～ 5μmのサブミクロン粒子を精度よく測定することが出来ます。
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| 【 膜厚評価装置 】 コンパクト・高機能エリプソメータを低価格で提供！ |
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● 卓上型分光エリプソメータ FE-5000S 高精度な膜厚解析・光学定数解析が可能な卓上型分光エリプソメータです。自動角度可変測定、全角度同時解析など高機能仕様の分光エリプソメータを低価格・省スペースにて実現しました。薄膜材料における多層薄膜の膜厚解析が可能であり、膜厚管理・膜質管理に有用な情報を提供することが可能です。
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