積分半球による光源評価のご提案です。積分球（全球）の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。

特許取得済み
検出器	瞬間マルチ測光検出器（MCPD検出器）
測定項目	全光束、分光放射束スペクトル、色度座標、相関色温度、演色性評価数など

0.005cd/m2の超低輝度から400,000cd/m2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。FPDの基本性能に重要なメガコントラスト、応答速度測定に対応可能です。

波長範囲	355 nm ～ 835 nm
精度範囲	0.005 cd/m2 ～ 400,000 cd/m2
検出器	分光方式
測定項目	放射輝度（W/Sr/m2）、輝度（cd/m2）、色度座標（xy、u'v'）、三刺激値（XYZ）、相関色温度、偏差など

高精度な膜厚解析・光学定数解析が可能な卓上型分光エリプソメータです。自動角度可変測定、全角度同時解析など高機能仕様の分光エリプソメータを低価格・省スペースにて実現しました。薄膜材料における多層薄膜の膜厚解析が可能であり、膜厚管理・膜質管理に有用な情報を提供することが可能です。

測定膜厚範囲	0.1nm ～ 10μm
測定波長範囲	300nm ～ 800nm
検出器	ポリクロメータ （PDA、CCD）
測定項目	エリプソパラメータ（cosΔ,tanψ） 光学定数解析（k：消衰係数、n：屈折率）、膜厚解析

偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。

検出波長	550 nm（他選択可能）
測定項目	リタデーション測定（測定範囲：0nm～1μm） 主軸方位角度、楕円率・方位角、三次元屈折率など