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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
本展示会は、(社)日本分析機器工業会の主催で、我が国最大規模の分析機器の展示会です。本年のテーマは、「分析からはじまる新たなステップ」です。大塚電子（株）も出展し（ブースは「6A-402」）、ゼータ電位･粒径測定システムELSZ series、濃厚系粒径アナライザーFPAR-1000、FPAR用オートサンプラーFP-3000、キャピラリー電気泳動装置CAPI-3300、反射分光膜厚計FE-3000、テラヘルツ分光器を展示いたします。
また製品技術説明会ではテラヘルツ分光器、ゼータ電位･粒径測定システムについてご説明いたします。各種技術資料も取り揃えて皆様のご来場をお待ちしています。
また製品技術説明会ではテラヘルツ分光器、ゼータ電位･粒径測定システムについてご説明いたします。各種技術資料も取り揃えて皆様のご来場をお待ちしています。
| ●名 称 | 2008分析展（JAIMA SHOW 2008） |
| ●日 時 | 2008年9月3日（水）～9月5日（金） 10:00～17:00 |
| ●会 場 | 幕張メッセ ５・６・７・８ホール |
| ●入場料 | 無料 |
| ●主 催 | 社団法人 日本分析機器工業会 |
| ＜希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能＞ | ||||||||
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能です。
粒子径測定範囲も（0.6nm～7000nm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
  ELSZシリーズとの組み合せにより、pHに対するゼータ電位変化を連続測定することが可能になります。 |
| ＜ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能＞ | ||||
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
 FPARとオートサンプラーの組み合せで、50検体までの試料について粒子径の自動測定が可能です。 サンプル量が1mlで、安価なディスポセルを用いての測定が可能です。 |
| ＜微量サンプル・低濃度・短時間・高分離能で分析可能＞ |
●キャピラリー電気泳動装置 CAPI-3300 前処理簡略化、陽イオン・陰イオンの連続自動測定など、HPLC・ICと比較して多くのメリットがあります。
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【 膜厚評価 】 多層膜の膜厚・膜質評価を高速・高精度で実現！ |
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● 反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能を付加した光干渉式膜厚測定システムです。紫外可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトルにより、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を高速・高精度で実現します。半導体材料、FPD材料、光記憶材料、新機能性材料など、多様化する各種膜厚、膜質解析にお応えします。
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| ＜遠赤外（テラヘルツ）領域の小型分光器＞ | ||
● テラヘルツ分光器  高速・高分解能で時間領域分光測定が可能です。
固体、粉体、液体試料に対応しています。
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併催の製品技術説明会では以下内容のセミナーも行います。
ぜひご聴講ください。
| ●テーマ |
テラヘルツ分光器TR-1000： 操作性向上で広がるアプリケーション |
| ●対象製品 | テラヘルツ分光器 （TR-1000) |
| ●日 時 | 2008年9月3日（水） 15：50～16：15 |
| ●会 場 | アパホテル＆リゾート A-2室 |
| ●テーマ | 粒径・ゼータ電位測定による最近の機能性材料の分散評価 |
| ●対象製品 | ゼータ電位・粒径測定装置（ELSZ series） |
| ●日 時 | 2008年9月5日（金）10：30～11：20 |
| ●会 場 | アパホテル＆リゾート A-5室 |
