●名 称 | 粉体工業展・大阪2007 |
●日 時 | 2007年10月16日(火)~10月19日(金) 10:00~17:00 |
●会 場 | インテックス大阪 1・2号館 |
●入場料 | 1,000円(ただし、招待券持参者・事前登録者・学生は無料) |
●主 催 | 社団法人 日本粉体工業技術協会 |
●併 催 | 粉体工学会 秋期研究発表会 APPIE産学官連携フェア2007 全日本科学機器展 in 大阪 |
<希薄溶液から濃厚溶液まで幅広い濃度範囲のゼータ電位・粒子径を一台で測定可能> | ||||||||
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定と平板・フィルム状試料の表面ゼータ電位測定が可能です。
粒子径測定範囲も(0.6nm~7μm)、濃度範囲(0.001%~40%)に対応。 pHタイトレータと組合せることでpHや添加剤濃度に対するゼータ電位変化を自動測定することができます。
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<ナノ粒子の分散状態評価、濃厚溶液での粒子径計測が可能> | ||||
●濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 希薄系から濃厚系まで幅広い濃度領域での粒子径測定コロイド分散液やスラリーの分散状態の解析に最適です。
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●テーマ | 粉体微粒子のゼータ電位・粒子径測定 |
●対象製品 | ゼータ電位・粒径測定装置(ELSZ series) |
●日 時 | 2007年10月19日(金)13:00~13:30 |
●会 場 | 粉体工業展・大阪2007 展示会場内特設Bルーム(2号館) |