ディスプレイ評価・検査機器、科学計測・分析機器、医療機器の分野でアプリケーション、プロダクトを提供
HOME>イベント>展示会情報>FPDインターナショナル2007
大塚電子 ニュース
FPDインターナショナル2007 -Displaying THE FUTURE -
無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
本展示会では、ディスプレイ評価を中心に新製品・新技術をご紹介します。 今話題のディスプレイの動画解像度を定量的に評価する装置を展示するほか、積分半球によるバックライト評価へのご提案、また参考出品として新しく開発した分光放射輝度計をご紹介します。弊社の技術が、お客様の「評価したいこと」を実現します。ぜひ弊社ブースへお立ち寄りください。
名 称 FPD International 2007
日 時 2007年10月24日(水)~26日(金)
会 場 パシフィコ横浜
入場料 2000円
 無料招待券をご希望の方は、までその旨を記入の上、
 ご送信ください。 後日、無料招待券をご送付致します。
主 催 日経BP社
出展ブース「541」
出展ブース図「ブースNO.541」
出展製品
【 動画解像度評価 】
  ディスプレイの動画解像度を定量的に評価!
●動画解像度評価装置 MR-2000
動画解像度評価装置 MR-2000

APDC((株)次世代PDP開発センター)が提唱する動画解像度測定方式に準拠した、ディスプレイの動画解像度を定量評価できる装置です。

※ディスプレイの実用的な動画解像表示性能を、「人の見た目に近い尺度」で
  測定・評価するための方式

測定項目 動画解像度
【 動画ボヤケ評価 】
 カラー画面の動画質評価も対応可能な新製品!
●動画特性評価装置 MPRT-2000
動画特性評価装置 MPRT-2000

眼球追従型CCDカメラによって得られたカラー画像を処理することにより、動画ボヤケだけでなく擬似輪郭、色割れなどの動画特性評価も精度よく数値化します。LCDをはじめ、FPD全般の動画質評価に利用できます。

2007年10月25日(木)9:30~12:30に行われる「PB-3:画質測定技術」フォーラム内にて「MPRT評価の現状の問題点とその対応」タイトルで講演を行います。詳細は、FPD International 2007公式ホームページにてご確認ください。

測定項目 動画ボヤケ時間(BET、EBET、MPRT)
【 輝度評価 】
 超低輝度(0.005cd・m-2)から高輝度(400,000cd・m-2)!
●高感度分光放射輝度計 HS-1000 (参考出品)
高感度分光放射輝度計 HS-1000
0.005cd・m-2の超低輝度から400,000cd・m-2の高輝度まで高速・高精度測定が可能な分光放射輝度計です。輝度・色度精度の高い分光方式でありながら、小さい偏光誤差を実現しています。

波長範囲 355 nm ~ 835 nm
精度範囲 0.005 cd・m-2 ~ 400,000 cd・m-2
検出器 分光方式
測定項目 放射輝度(W・Sr-1・m-2)、輝度(cd・m-2)、色度座標(xy、u'v')、三刺激値(XYZ)、相関色温度、偏差など
【 光源評価 】
 バックライトの評価も簡単により高精度に!
●全光束測定システム(積分半球仕様)
半球光束測定システム
積分半球によるフラットパネルの全光束測定です。積分球(全球)の弱点である「光源点灯治具の自己吸収」による誤差を解消、全光束評価が難しいバックライトなどの面発光光源も簡単に精度良く評価できるシステムを提供します。

検出器 マルチチャンネル分光光度計(MCPD検出器)
測定項目 全光束、分光放射束スペクトル、色度座標、 相関色温度、演色性評価数など
【 リタデーション評価 】
 0.1秒以下の速さで低リタデーションと主軸方位角の同時測定を実現!
●低リタデーション測定装置 RE-100
低リタデーション測定装置 RE-100
偏光計測モジュールを用いた計測システムです。低リタデーションサンプルのリタデーションおよび主軸方位角を同時にかつ高速で測定できます。形状がコンパクトであり、高速測定が可能なことから、フィルムや光学材料のインライン測定に最適です。

検出波長 550 nm(他選択可能)
測定項目 リタデーション測定(測定範囲:0nm~1μm)
主軸方位角度、楕円率・方位角、三次元屈折率など

パネル展示
【 膜厚測定 】
 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能性を付加した光干渉式膜厚測定システム
●反射分光膜厚計 FE-3000
  広い波長域により多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定に対応
  高分解能検出器の採用により、厚膜にも対応。(膜厚測定範囲:0.8~250μm)
  顕微反射スペクトル測定により、測定を高速・高精度で実現
  大型ステージ、搬送システムにも対応可能

測定膜厚範囲 1nm ~ 250μm
測定波長範囲 190nm ~ 1600nm
検出器 PDA、CCD、InGaAs
測定項目 多層膜厚解析、膜物性解析(k:消衰係数、n:屈折率)、
絶対反射率測定
反射分光膜厚計 FE-3000

【 膜厚測定 】
  エリプソパラメータ測定、多層膜厚解析、光学定数解析などによリ、超薄膜の詳細な解析に対応
●分光エリプソメータ FE-5000
 紫外可視(250~800nm)の波長領域でのエリプソパラメータ測定に対応
 ナノメータオーダーの多層薄膜の膜厚解析が可能
  反射角度可変測定により、薄膜の詳細な解析に対応
  多層膜フィッティング解析による光学定数測定による膜厚・膜質管理が可能

測定膜厚範囲 0.1nm ~ 1μm
測定波長範囲 250nm ~ 800nm
検出器 電子冷却型一次元検出素子 512ch
測定項目 エリプソパラメータ(cosΔ,tanψ)
光学定数解析(k:消衰係数、n:屈折率)、膜厚解析
分光エリプソメータ FE-5000

【 膜厚測定 】
  高精度な膜厚解析・光学定数解析が可能な卓上型分光エリプソメータを低価格で実現!
●卓上型分光エリプソメータ FE-5000S
 自動角度可変測定、全角度同時解析など高機能仕様
  高機能な分光エリプソメータを低価格・コンパクトサイズにて実現
  ナノメータオーダーの半導体、薄膜材料における多層薄膜の膜厚解析が可能
  多層膜フィッティング解析による光学定数測定により、
   膜厚管理・膜質管理に有用な情報を提供

測定膜厚範囲 0.1nm ~ 1μm
測定波長範囲 300nm ~ 800nm
検出器 ポリクロメータ (PDA、CCD)
測定項目 エリプソパラメータ(cosΔ,tanψ)
光学定数解析(k:消衰係数、n:屈折率)、膜厚解析
卓上型分光エリプソメータ FE-5000S

「PB-3:画質測定技術」フォーラム
テーマ MPRT評価の現状の問題点とその対応
日 時 2007年10月25日(木) 9:30~12:30
「PB-3:画質測定技術」フォーラム内

内 容

近年、LCDの動画ボヤケの測定と評価方法にMPRTが用いられている。LCDの性能は飛躍的に向上しディスプレイと比較される機会が増えた。そこで、他のディスプレイと比較した場合の問題点と、現在検討されている新たな評価方法について述べる。また、動画特性の測定方法の新たな試みについても触れる。
 ※詳細は、FPD International 2007公式ホームページにてご確認ください。
copyright(c)otsuka electronics co.,ltd all rights reserved.