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無事終了いたしました。
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
多数のご来場を頂き、誠にありがとうございました
光を用いた各種分析装置を開発してきた大塚電子が、ナノテクノロジーをサポートする各種分析装置および測定技術・応用例などについての技術セミナーを開催いたします。
また、製品展示コーナーを併設し、実際の装置でのデモ測定（粒子径測定）を実施いたします。
ぜひ 、この機会に大塚電子の製品を直接ご覧ください。
| ●日 時 | 2007年7月31日（火） 13:00～16:30 （受付12：30～） |
| ●費 用 | 無料 |
| ●会 場 | ８階 住所：横浜市中区万代町2丁目4番地7 TEL：045-681-6551 FAX：045-664-9400 |
| ●お申込 | お申込は終了させていただきました |
| ゼータ電位・粒径測定 |
●ゼータ電位・粒径測定システム ELSZ series 従来からの希薄溶液に加え濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定が可能な装置です。粒子径測定範囲も（0.6nm～7μm）、濃度範囲（0.001%～40%）に対応。装置も従来装置に比べコンパクトになり、取扱いが簡単な電気泳動セルにより操作性が向上しました。
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| 工業用ガス分析装置 |
●工業用ガス分析装置 IG シリーズ プロセス現場でのガス成分分析が手軽にできる高感度プロセス用FTIRガス連続モニターです。
プロセス装置から排出されるPFCsガスの分解効率、排出量試算、およびプロセス最適化、除害装置の除害効率評価などに最適です。簡単なガスセル交換で幅広い濃度範囲の多種ガス成分分析に対応可能であり、半導体特殊ガスなどトレーサビリティのあるガスライブラリーによる定性・定量解析が高精度にできます。研究分野から品質管理、ライン管理まで対応できる装置です。 |
| 反射分光膜厚計 |
●反射分光膜厚計 FE-3000 マルチチャンネル検出器による高速性と、顕微光学系による多機能性を付加した光干渉式膜厚測定システムです。
紫外・可視域から近赤外域までの顕微反射スペクトル測定により、多層薄膜から厚膜まで幅広いレンジの膜厚測定を非破壊・非接触、かつ高速・高精度・高再現性で実現します。
非線形最小二乗法薄膜解析ソフトウェアによる多層膜の膜厚解析、光学定数解析（ｎ：屈折率，ｋ：消衰係数）による膜物性解析など、さまざま膜種や用途に対応可能です。
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【受付開始】 （１２：３０～）
展示機器の見学や、「FPAR-1000」を用いた濃厚系から希薄系のサンプルについての粒径のデモ測定が可能です。
【Seminar１】 （１３：００～１３：４５）
工業用ガス分析装置 IGシリーズの測定例について
・工業用ガス分析装置
IGシリーズ
IGシリーズは、FTIRを採用した可搬型のガス濃度モニターです。今回は、半導体製造プロセス、燃料電池関連、プロセスガス製造プラントなど、さまざまな現場で実施した評価例をご紹介します。
【Seminar２】 （１３：４５～１４：３０）
ナノマテリアルの計測・評価法としての粒径・ゼータ電位測定技術と測定例
・ゼータ電位・粒径測定システム
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱装置
・濃厚系粒径アナライザー
・ファイバー光学動的光散乱装置
ELSZ シリーズ
FPAR-1000 シリーズ
FDLS-3000
FPAR-1000 シリーズ
FDLS-3000
ナノマテリアルの計測・評価法として、ナノ粒子合成からナノバブルの解析や分散凝集性評価法としての粒径測定技術と、分散凝集性や界面・表面処理の評価法としてゼータ電位測定技術についてご紹介します。
＜コーヒーブレイク＞ （１４：３０～１５：００）
【Seminar３】 （１５：００～１５：４５）
機能性フィルムの位相差測定、Rth測定
・リタデーション測定装置
RE-100、RETS-100
要求精度が高まりつつある機能性フィルムの位相差とRth測定にスポットを当てて、低リタデーション（1nm）からの測定を可能にした新たな回転検光子法と、フォトニック結晶を用いた世界最速（0.1秒）の低リタデーション測定装置の2種類をご紹介します。
【Seminar４】 （１５：４５～１６：３０）
機能性膜の膜厚測定、膜物性評価
・反射分光膜厚計
・分光エリプソメータ（S)
・分光エリプソメータ（S)
FE-3000
FE-5000S
FE-5000S
ナノテクを応用した高機能性膜を対象に、薄膜から厚膜までさまざまな部材に対応した膜厚解析や、屈折率や消衰係数の波長依存性などの膜質解析について、アプリケーションデータを用いながらご紹介します。
ＯＰＥＮ （１２：３０～１６：３０）
併設の展示コーナーでは、製品展示・パネル展示にて各製品をご紹介します。ご不明な点などはお気軽に声をお掛けください。また、当日製品展示予定の「オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー（FPAR-1000+FP3000）」につきましては、試料をお持ち頂ければその場でデモ測定を実施いたします。 （水系以外の試料では、溶媒の屈折率と粘度が必要です。サンプル量は1mL以上ご準備ください。）
＜製品展示＞
● ゼータ電位･粒径測定システム
ELSZ series
● オートサンプラー付き濃厚系粒径アナライザー
FPAR-1000 + FP-3000
＜パネル展示＞
● ファイバー光学動的光散乱光度計
FDLS-3000
● ダイナミックス光散乱光度計
DLS-8000
● リタデーション測定装置
RE-100
RETS-100
● 反射分光膜厚計
FE-3000
● 分光エリプソメータ
FE-5000S
● 工業用ガス分析装置
IG シリーズ
お申込は終了させていただきました
